功率半导体动态测试系统由高压电源、IGBT驱动控制板、高压监控模块、高速采集模块等单元组成。系统支持单脉冲、双脉冲及多脉冲测试、二极管特性测试、杂感计算、短路测试等。同时可提供高低温快速温变环境，覆盖室温至150℃，实现车规级测试应用。低感值定制夹具(≤20nH)可支持多种封装形式的IGBT总成模块，配合低杂感集成母排，实现模块并联测试。系统测试电压覆盖20-6000V，电流50-10000A(可选)。整套动态测试系统自带过流保护功能，在模块失效发生时可快速关断电流回路。