功率半导体老化设备由高压电源、IGBT总成驱动控制板、IGBT温度监控板、定制高频功率电感、水冷机等单元组成。整套系统老化工位数量可根据客户需求定制，待测件支持并联扩展测试。系统最大可提供1200Vdc输入，负载电流可扩展至1000A，驱动板开关频率最大支持100K，死区调整时间400ns-3us。自研多通道水冷机可实现8-20L/min的流量需求，以及20℃-90℃的温度需求。整套测试系统软件自由度高，用户可根据实际需求自定义调教速率、输出频率、电流系数等。